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キヤノンMJ、テストの採点集計を自動化する「in Campus Scan」を6月から提供

藤井涼 (編集部) 飯塚 直2018年05月10日 13時00分
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 キヤノンマーケティングジャパン(キヤノンMJ)とキヤノンITソリューションズ(キヤノンITS)は5月10日、AI技術を活用した授業支援クラウドシステム「in Campus Scan」を6月1日より提供すると発表した。テストやレポートなどの採点集計を自動化し、学習成果や成績処理の業務の効率化を実現するという。料金は、小中高校向けが年間50万円から、大学向けが年間100万円から。


 両社は2014年より、明治大学と共同で開発した授業支援システム「Oh-o! Meijiシステム」をベースに独自開発した教育機関向けソリューション「in Campus Series」を展開。学内情報発信の窓口となる「ポータル」と授業で利用される「LMS(学習管理システム)」を中心に、他のシステムとも連携できる汎用性の高いシステムとなっている。


 今回両社は、in Campus Seriesに授業支援システムとしてin Campus Scanを追加。同システムはキヤノンITSのR&D本部がディープラーニングを用いたAI技術を活用して開発したもので、採点済みの手書きの数字を読み取り、学生情報のリストと照合させることで採点結果を自動集計。学習成果や成績処理の業務効率化を実現するという。

 また2018年内には、in Campus Seriesとキヤノンの複合機「imageRUNNER ADVANCE」との連携機能を追加する予定。採点結果の集計から学生・生徒へのテストやレポートの返却までの一連の工程を、in Campus Series上で実現できるようにするという。

 キヤノンMJグループは、2020年までの中期経営計画においてITソリューション事業の拡大を掲げており、文教分野でもin Campus Seriesを中心に、システムパートナーとのアライアンスや大学に加え小中高校向けソリューションを推進。文教ソリューションを強化するとしている。

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