フォトレポート：携帯電話を曲げて、揺すって、転がして--ノキアの耐久試験センターを見学 - 11/12

文：Marguerite Reardon（CNET News） 翻訳校正：川村インターナショナル2009年10月19日 07時30分
　ある機器が耐久テストの1つに合格しなかった場合、分析室でその機器をさらに詳しく調べる。 　この写真にあるのは、詳しく調べるために中央でカットされた携帯電話だ。損傷個所を特定して、顕微鏡で調べる。機器の非常に細かい部分を調べるために、電子顕微鏡を使うこともある。問題を特定するために3Dスキャンを使うこともある。
Scroll Right Scroll Left

　ある機器が耐久テストの1つに合格しなかった場合、分析室でその機器をさらに詳しく調べる。

　この写真にあるのは、詳しく調べるために中央でカットされた携帯電話だ。損傷個所を特定して、顕微鏡で調べる。機器の非常に細かい部分を調べるために、電子顕微鏡を使うこともある。問題を特定するために3Dスキャンを使うこともある。

提供：Marguerite Reardon/CNET

CNET Japanの記事を毎朝メールでまとめ読み（無料）

-PR-企画広告

企画広告一覧

このサイトでは、利用状況の把握や広告配信などのために、Cookieなどを使用してアクセスデータを取得・利用しています。 これ以降ページを遷移した場合、Cookieなどの設定や使用に同意したことになります。
Cookieなどの設定や使用の詳細、オプトアウトについては詳細をご覧ください。
[ 閉じる ]