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テクトロニクス、パワー・デバイスのダブル・パルス・テストの時間を大幅に短縮する新ソフトウェアを発表

テクトロニクス 2019年10月08日 13時00分
From Digital PR Platform


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報道発表資料
2019年10月8日

テクトロニクス(所在地: 東京都港区、代表取締役: Kent Chon)は、本日、重要なダブル・パルス・テストを1分以内に実行し、従来のテスト方法に比べて大幅な時間短縮を可能にする、AFG31000シリーズ任意波形/ファンクション・ジェネレータ用の新しいソフトウェア・プラグインを発表します。

この新たなダブル・パルス・テスト・ソフトウェアによって、研究者やエンジニアは、AFG31000シリーズの大型タッチスクリーン・ディスプレイの1つのウィンドウ上で、テストに必要なパルスのパルス・パラメータをすばやく設定し、出力することができます。これらすべては1分以内に実行可能です。30パルスまでのパルス幅とパルス間のタイム・ギャップが調整でき、パルス幅は、20ns~150μsの範囲で設定可能です。

テクトロニクス、ケースレー事業本部の副社長兼事業本部長のクリス・ボーン(Chris Bohn)は、次のように述べています。「新製品のダブル・パルス・テスト・プラグインを使用すると、テクトロニクスのAFG31000シリーズでテスト・システムを簡単にセットアップし、パラメータをすばやく変更できます。さまざまなテストを効率よく、一貫性を保って実行できます。これは、パワー・エンジニアにとっては大きな生産性向上であり、結果として大幅なコスト削減と市場投入までの時間短縮につながります」

ダブル・パルス・テストは、パワー/半導体業界の研究者、設計、テストのエンジニアが行っており、SiC(炭化ケイ素)、GaN(窒化ガリウム)などのワイド・バンドギャップ素材のパワー・デバイスのスイッチング・パラメータと動的な振舞いを測定、検証します。

ダブル・パルス・テストを実行するには、最低でも2つの電圧パルスのパルス幅を変化させて正確に出力し、タイミングをとってMOSFETまたはIGBTパワー・デバイスにトリガする必要があります。測定は、テクトロニクス5シリーズMSOなどのオシロスコープで行います。このようなパルスの出力は現状のテスト機器では困難です。研究者やエンジニアはPCまたはマイクロコントローラを使用して手作業で波形を生成しなければならず、時間がかかり、エラーの原因となっていました。

任意波形/ファンクション・ジェネレータの新基準、AFG31000シリーズ
2018年に発表されたAFG31000シリーズは、このクラスで数多くの業界初を実現した任意波形/ファンクション・ジェネレータです。大型のタッチスクリーン、新しいユーザ・インタフェースを搭載し、インピーダンス・ミスマッチの自動検出/補正が可能なテクトロニクス特許のInstaView™機能、プログラマブルな波形シーケンス機能、任意波形の生成、編集が容易なArbBuilderツールも備えています。

9型タッチスクリーン・ディスプレイを搭載したAFG31000シリーズは、1チャンネルまたは2チャンネル、14ビットの垂直分解能、250MS/s、1GS/s、または2GS/sのサンプル・レート性能を持った機種が用意されています。AFG31000シリーズの標準価格は、\271,000(税別)からとなっています。


ダブル・パルス・テスト・ソフトウェアのダウンロードについて
テクトロニクスのWebサイト ダブル・パルス・テスト・プラグインから無料でダウンロード可能です。


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