テクトロニクス、Test & Measurement World誌で2つのBest in Testを受賞

[2012年2月3日　米国オレゴン州ビーバートン発]
テクトロニクスは、Test & Measurement World誌のオシロスコープ部門において、MDO4000シリーズ・ミックスド・シグナル・オシロスコープが2012年のBest in Testを受賞したことを発表しました。さらに、すべての受賞製品の中から、2012年のTest Product of the Yearも受賞しました。

テクトロニクス、オシロスコープ事業部ジェネラル・マネージャのロイ・シーゲル（Roy Siegel）は、次のように述べています。「今回の受賞は非常に名誉あるものであり、当社の設計チームが新しいオシロスコープの分野を創造したことに対する結果だと考えています。これは、この２０年におけるオシロスコープの技術革新の歴史において画期的なことです。テクトロニクスのMDO4000シリーズは、1台の計測器でアナログ、デジタル、RFの信号を、時間相関をとりながら取込み、時間と共に変化するRFスペクトラムを観測することのできる世界初の製品です。 この革新的な機能により、設計エンジニアは複雑な問題であってもすばやく、効率的に問題を解決できます。テクトロニクスは、お客様のご要望に応える革新的、画期的な製品を発表しており、その努力がこの2つの賞として評価されたものと考えています」

MDO4000シリーズにより、オシロスコープとスペクトラム・アナライザの機能を１台で実現する計測器です。これにより、新たにスペクトラム・アナライザを導入する必要や、使い方を習得し直すこともなく、使い慣れたオシロスコープで周波数ドメインの観測ができます。デバッグにおいて、MDO4000シリーズは一般的なスペクトラム・アナライザでは対応できない、時間相関のとれたアナログ／デジタル／RF信号を標準装備のアナログ4チャンネル、デジタル16チャンネル、RF 1チャンネルを用いて取込むことができます。複数の計測器を使用した場合、異なるドメイン間で信号の正確な相関をとることはほとんど不可能ですが、MDO4000シリーズでは時間ドメイン、周波数ドメインの両方のドメインで完全に時間相関をとって観測できます。各ドメイン間で時間相関がとれるため、正確なタイミング測定で設計上のコマンド／コントロール・イベントによるRFスペクトラムの変化の遅延やレイテンシがわかります。例えば、VCO/PLLがオンになったときのスペクトラム観測や、周波数ホッピングするRF信号のトランジション特性測定も簡単に行え、今までエンジニアが時間のかかった作業を簡単に測定することが可能になり、大幅な時間短縮を可能にします。

テクトロニクスについて
テクトロニクスは、計測およびモニタリング機器メーカとして、世界の通信、コンピュータ、半導体、デジタル家電、放送、自動車業界向けに計測ソリューションを提供しています。65年以上にわたる信頼と実績に基づき、お客様が、世界規模の次世代通信技術や先端技術の開発、設計、構築、ならびに管理をより良く行えるよう支援しています。米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、現在世界22カ国で事業を展開しています。詳しくはウェブサイト（www.tektronix.com/ja）をご覧ください。

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