電子透かし入り学生証を用いた出席管理、立命館大で実験

鳴海淳義(編集部)2007年04月05日 20時03分

 立命館大学とNTTは4月5日、電子透かし技術を用いた学生証による講義出席管理を、4月11日より共同で実験すると発表した。

 実験は立命館大学大学院理工学研究科の講義「システムLSI設計特論1」で行う。顔写真の部分に電子透かし情報を埋め込んだ学生証を受講者に配布し、これを講義開講時および閉講時に、教室入り口に設置した電子透かしリーダにかざすことで、出席管理を自動的に行う仕組みだ。

 実験では、電子透かし技術を用いた出席管理システムの有効性、出席管理電子化による教職員の業務効率性、出席情報のリアルタイム可視化などについて検証する。

 実験で利用する電子透かし技術は、NTTのサイバースペース研究所で開発を進めてきたもので、画像の中に人の目には見えにくい形で情報を埋め込むことができ、電子画像でも紙面に印刷した画像でも電子透かしを読み取ることが可能となっている。今回の実験で作成する電子透かし入り学生証は、通常のプリンタや用紙で印刷できるため、発行コストを低く抑えることができるという。

CNET Japanの記事を毎朝メールでまとめ読み(無料)

-PR-企画特集

このサイトでは、利用状況の把握や広告配信などのために、Cookieなどを使用してアクセスデータを取得・利用しています。 これ以降ページを遷移した場合、Cookieなどの設定や使用に同意したことになります。
Cookieなどの設定や使用の詳細、オプトアウトについては詳細をご覧ください。
[ 閉じる ]