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テクトロニクス、TECHNO-FRONTIER 電源システム展に出展

テクトロニクス 2018年04月11日 12時16分
From Digital PR Platform


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報道発表資料
2018年4月11日

テクトロニクス(所在地: 東京都港区、代表取締役: Kent Chon)は、幕張メッセにて開催されるテクノフロンティア 電源システム展(4月18日(水)~4月20日(金)、10時~17時)に出展し、高効率パワー、ノイズ、バッテリの3つのアプリケーション中心に、計測、テスト、解析における新たな課題に応えるソリューションを紹介します。会場内では出展社セミナも開催します。

出展ブース: 6B-35

出展ソリューション:
SiC/GaNを含む高効率パワーの測定/解析ソリューション
高分解能オシロスコープと光アイソレーション型差動システムによるGaNのインバータ回路のハイサイドVgs、Vdsの波形測定を実演します。また、パワー解析ソフトウェアによるインバータ、コンバータの変換効率、スイッチング損失、磁気部品解析、SiCやGaNのスイッチング・パラメータの測定を紹介します。

EMCのプリコンプライアンス測定とノイズのトラブルシューティング
EMC規格試験に短時間・低コストでパスするためには、事前評価が重要です。テクトロニクスでは新製品のEMCVuソフトウェアとUSBリアルタイム・スペクトラム・アナライザに加え、アンテナ、LISNなどをトータルに提供しています。ブースでは短時間で効率的なプリコンプライアンス測定と、ノイズ低減に効果的なEMIトラブルシューティングについてご紹介します。

省電力無線通信搭載製品のバッテリ駆動時間評価ソリューション
IoTデバイスやモバイル機器などの無線通信搭載製品では、バッテリ駆動時間の向上が重要な設計課題になっています。ここでは、ボタン電池などの放電特性を再現して出力し、省電力無線通信デバイスのアクティブ状態とスリープ状態の消費電流波形を、精密かつ簡単に測定することでバッテリ駆動時間の評価を効率化するソリューションをご紹介します。

ベンチでの設計、トラブルシュートからテストまで高性能、高機能の最新計測ツール
最高16ビットまでの高分解能や8チャンネルをはじめとした高性能に加え、大画面、タッチパネルの操作性など革新の新機能を備えた最新のオシロスコープ、高精度タッチスクリーンを搭載し、超高速1MS/sデジタイザ機能を搭載した最新型デジタル・マルチメータ、コンパクト、低コストで使いやすいベクトル・ネットワーク・アナライザなど、最新の計測器をご紹介します。

電源システム展公式サイト: リンク

出展者セミナ: 「光絶縁型プロービング・システムによるGaN、SiC電源回路評価」
日時: 4月20日(金)14:30~15:20
場所: B会場
参加費: 無料(事前登録制)
申し込みサイト: リンク

テクトロニクスについて
米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、お客様の問題を解決し、詳細の理解を深め、新たな発見を可能にする、革新的で正確かつ操作性に優れたテスト/計測モニタリング・ソリューションを提供しています。テクトロニクスは70年にわたり電子計測の最前線に位置し続けています。ウェブサイトはこちらから。 jp.tek.com

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