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テクトロニクス、業界トップクラスの高感度、低ノイズを実現した光モジュールを発表

テクトロニクス 2017年03月22日 11時00分
From Digital PR Platform


報道発表資料
2017年3月22日

テクトロニクス(所在地:東京都港区、代表取締役:木下 伸二)は、本日、業界トップクラスのマスク・テスト感度、低ノイズ性能により、生産の容量と歩留まりを向上し、現行100G製品の設計から生産への移行を可能にする、DSA8300型サンプリング・オシロスコープ用の新製品光モジュールを発表します。また、IEEE Ethernet規格による光テストのためのTDECQ(Transmitter and Dispersion Eye Closure) PAM4、および関連サポート測定を含む、400Gテスト・ソリューションの強化も発表します。

新製品の光モジュールと新しい機能、さらに100G/400G光特性評価と検証に関するテクトロニクスのソリューションは、3月23日まで米国カリフォルニア州ロサンゼルスで開催中のOFC(Optical Networking and Communication Conference and Exhibition)で展示します。

テクトロニクス、パフォーマンス・オシロスコープ、ジェネラル・マネージャのブライアン・ライク(Brian Reich)は、次のように述べています。「100Gは設計から生産フェーズに移行しており、製造の歩留まりが最重要課題になっています。テクトロニクス・ソリューションの業界トップクラスの低ノイズ性能により、信頼性の高いテスト結果が得られるため、光コンポーネントやインターコネクトの製造歩留まりの向上を可能にします。さらに、新世代のデータ転送における詳細な解析、効果的なデバッグを可能にする広範囲にわたるツールや機能の提供によって、400Gへの道を継続的にリードしてまいります」

DSA8300型サンプリング・オシロスコープ用モジュールの新製品80C17型、および80C18型光モジュールは、広範囲な波長に対応し、業界トップクラスの3.9μWという低ノイズ性能を備えながら、28GBd PAM4規格の必要性能を超える-14dBmのマスク・テスト感度を提供しています。2チャンネル仕様の80C18型は、光関連の製造テストにおいて2倍のスループットと容量を実現します。また、デバイスが不良の場合には、信号成分をノイズとジッタに分解し、問題の理解と解決に役立つ解析ツールも用意しています。


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