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◎ローデ・シュワルツが使い勝手を向上し、ツールを強化したRTEオシロスコープを発売

ローデ・シュワルツ 2014年02月27日 14時30分
From 共同通信PRワイヤー

◎ローデ・シュワルツが使い勝手を向上し、ツールを強化したRTEオシロスコープを発売

AsiaNet 55983
共同JBN 0233 (2014.2.27)

【ミュンヘン(ドイツ)2014年2月26日PRN=共同JBN】R&S RTEデジタル・オシロスコープは組み込みデザイン開発、パワーエレクトロニクス分析、全般的なデバッギングなど通常の試験・計測作業に役立つ高速かつ信頼性の高いソリューションを提供している。ユーザーは高いサンプリングレート、取得率、信号忠実度などの利便を受ける。R&S RTEは測定・解析ツールの多くを含むセットになっているため即座に結果を見ることができ、高解像度タッチスクリーンの使用で使い勝手も非常によくなっている。

ローデ・シュワルツ(Rohde & Schwarz)の新型R&S RTEは200MHzから1GHzの帯域幅で利用可能である。100万波形/秒以上の取得率をもつためユーザーは迅速に信号障害を見つけることができる。このスコープはトリガージッターが事実上ゼロの非常に正確なデジタル・トリガーシステムであり、非常に正確な結果を出すことができる。7以上の有効ビット(ENOB)のシングルコアA/Dコンバーターはほぼ完全に符号ひずみを除去する。R&S RTEは5 Gsample/sのサンプリングレートおよび50 Msample/channelの最大メモリーデプスを持ち、I2CやCANなどのシリアル機器のデータ内容を分析する時に必要とされるロング・シグナルシーケンスも正確に記録することができる。

複雑な作業を行うユーザーにとってはR&S RTEのもたらす高速測定が特に有用になるだろう。例えばマスクテストにおいては統計的に確実な結果が迅速に返ってくる。高度な応答性能をもち、スペクトラム・アナライザーのような働きをするFFTが散発的な信号でさえ確実に検知するため、R&S RTEは製品開発時のEMIデバッギングに理想的である。

10.4インチの高解像度XGAタッチスクリーンを使用しているため、ユーザーは日々の試験・計測作業を直感的に行うことができる。例えば、ユーザーはスクリーンをスワイプするだけで保存されている機器設定を呼び出すことができる。さらに波形は「ドラッグアンドドロップ」するだけで画面上に並べ替えることができる。

詳しい情報はウェブサイト(リンク)を参照。

▽プレス問い合わせ先
Christian Mokry,
Phone: +49(89)4129-13052,
E-mail: press@rohde-schwarz.com

ソース:Rohde & Schwarz

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