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テクトロニクス、100G電気テスト製品ラインアップの拡充を発表

テクトロニクス 2013年09月25日 12時06分
From Digital PR Platform


報道発表資料
2013年9月25日

テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、100Gbps通信システムの電気分野に携わる設計エンジニア向けの製品とソフトウェアのラインアップの拡充を発表します。LE320型は2つの差動チャンネルと9つのタップを装備したリニア・イコライザであり、BERTScope(R)レシーバ・テスト・システムの一部として最高32Gbpsのデータ・レートをサポートします。PPG/PEDシリーズ・マルチチャンネルBERTの新しいオプションは、最高32Gbpsのデータ・レートにおけるストレス信号の出力と出力調整が行えます。また、40Gbpsのエラー・ディテクタ・モデルも発表しています。 さらに、DSA8300型サンプリング・オシロスコープの新しいオプション、CEI-VSRはCEI-28G-VSR規格で必要になるコンプライアンス・テストの自動化を可能にします。

業界のステージは半導体設計からトランシーバ/システム設計へと移行しており、4×25Gテストのニーズはますます重要になっています。設計エンジニアは、25~28Gbpsの4レーンを使用した、最高100Gbpsの革新的なネットワーク・エレメントを製作しています。このような高い周波数の信号を、たとえ短い距離であってもプリント基板上で伝送することで設計上の問題が発生します。LE320型は、汎用性の高い出力信号コンディショニングの設定、チューナブル入力イコライゼーション機能を装備しており、25~28Gbpsで動作する4つの電気チャンネル・テストのための光システムを構築することができます。PPG/PEDパターン・ジェネレータ/エラー・ディテクタ製品のマルチチャンネル機能を補完する、理想的なソリューションと言えます。サンプリング・オシロスコープのOpt. CEI-VSRは、効率的で一貫性のあるコンプライアンス・テストをサポートするため、設計チームは製造へのスムーズな移行が可能になります。

テクトロニクス、パフォーマンス・オシロスコープ、ジェネラル・マネージャのブライアン・ライク(Brian Reich)は、次のように述べています。「100Gのメインストリーム化に伴い、テクトロニクスは、半導体、ギアボックス、トランシーバ、システムの4×25G電気PHYテスト問題に対処するため、製品ラインアップに2つの重要な製品を加え、拡充を図ります。レシーバ・テストでは、テクトロニクスのBERTScopeにおいて電気チャンネル・モデリングとイコライゼーション機能をサポートすることで強化し、同様にマルチチャンネルBERTでは40Gbpsのサポートを追加します。また、トランスミッタの電気テストでは、CEI-28G-VSRの自動化ソリューションを提供します」

<Rxテストのためのコンパクトで汎用性の高い32Gbpsリニア・イコライザ>
10Gbps以上のシステムを開発する設計エンジニアは、Rx入力の前段にイコライザを、またはトランスミッタのTx出力でプリエンファシス・モジュールを必要としています。高速化し、12Gbps以上でこの要件を満たそうとすると、優れた信号コンディショニング機能を持つ限られた製品しか選択肢がなくなります。LE320型は、CEI-28G-VSRなどの100G通信規格で規定される高確度エラー・レート・テストで使用される8~32Gbpsのデータ・レート、9タップ設計の信号コンディショニングをサポートします。革新的なリモート・ヘッド設計により、LE320型はテスト・システムのケーブル長を短くすることができ、25~28Gbpsで顕著となる信号劣化の問題を防ぐことができます。LE320型は、Hittite社のカスタム・マイクロ波半導体をベースとして部品数を削減しており、機能の劣る他の製品や手法の1/3の価格、スマートフォンと大きく変わらないサイズの計測器グレードのパッケージで革新的な性能と汎用性を実現しています。

LE320型はプログラマブル・イコライゼーションによって規格固有のイコライゼーションを設定することができ、閉じたアイ信号のBER(ビット・エラー・レート)解析が行えます。低データ・レートを扱うお客様用にはLE160型を用意しており、40G-KR4、14Gbps Fibre Channel、16Gbps PCI Express 4.0などのアプリケーションの20Gbpsまでのシステムに対応できます。

<100GテストのためのマルチチャンネルBERT機能>
マルチレーン、高速データ・レートの規格により、マルチチャンネルのビット・エラー・レート計測器のニーズが高まっています。複数の高速パラレル・レーンへの移行により、ストレス・レシーバ・テスト、4チャンネルのエンド・ツー・エンドBERテスト、クロストーク・テストがテストの中心となっています。テクトロニクスのPPG/PEDシリーズ、マルチレーンBERTは、拡張されたジッタ・ストレス機能、新しい出力調整による柔軟性、高速のエラー検出機能により、これらの規格要件に対して十分に対応できます。

ジッタ・インサーションの拡張レンジ・オプションにはOpt. HFJITが含まれており、BUJ、RJ、SJ、および大振幅/低周波のPJも新しいOpt. LFJITの一部として提供されます。さらにOpt. ADJには、32Gbpsマルチチャンネル・パターン・ジェネレータ・アプリケーションで必要になる、高速の立上り/立下り時間を持った出力調整機能と低固有ジッタが追加されます。新製品のPED4000シリーズ・エラー・ディテクタは、最高40Gbpsのデータ・レートをサポートし、1または2チャンネル構成により、データ・レートのマージン・テストの強化が可能です。

<高速で信頼性の高いCEI-28G-VSRコンプライアンス・テスト>
OIF CEI(Optical Interworking Forum Common Electrical Interface)3.0のIA(Implementation Agreement)では、OIF規格をベースとしたデバイスのテストとリミットを規定しています。CEI-28G-VSRはこれらの規格の一つであり、プラグ式光トランシーバの非常に短い電気チャンネルに使用されます。これらの電気インタフェースはシステムのBER(Bit Error Rate)ターゲットに適合できることが重要であり、厳しいテストとデバッグ・サイクルを受けなければなりません。

従来、CEI-28G-VSRのすべてのコンプライアンス・テストを実行し、ジッタやノイズに関係する問題を特定することは難しい作業であり、労力を要するものでした。テクトロニクス80SJNBシリアル・データ・リンク解析ソフトウェアと統合することにより、別の計測器または測定セットアップに移動することなく、詳細なデバッグとタイミング問題の原因解析が行えます。

テクトロニクスDSA8300型サンプリング・オシロスコープとOpt. CEI-VSRを使用することで、設計エンジニアは5分以内でコンプライアンス・テストが実行できるため、手作業によるテストに比べて約95%もの時間短縮が可能になります。さらに、Opt. CEI-VSRを使用することで、CEI-28G-VSRのHost-to-Moduleインタフェース仕様で規定されるCTLEピーキングの最適値を求めることができます。数多くのフィルタから最適なCTLEフィルタが選択され、測定で使用されます。この機能がないと、設計エンジニアは時間をかけて手作業で最適なCTLEの値を求めなければならず、作業生産性が低下します。

<テクトロニクスについて>
テクトロニクスは、計測およびモニタリング機器メーカとして、世界の通信、コンピュータ、半導体、デジタル家電、放送、自動車業界向けに計測ソリューションを提供しています。65年以上にわたる信頼と実績に基づき、お客様が、世界規模の次世代通信技術や先端技術の開発、設計、構築、ならびに管理をより良く行えるよう支援しています。米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、現在世界22カ国で事業を展開し、優れたサービスとサポートを提供しています。詳しくはウェブ・サイト(www.tektronix.com/ja)をご覧ください。

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