テクトロニクス、SAS-3の自動トランスミッタ・テスト・ソリューションを発表

テクトロニクス 2012年08月02日 11時35分
From Digital PR Platform


報道発表資料
2012年8月2日

テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、SAS-3 12Gbpsインタフェースの測定対応を含む、SAS(Serial Attached SCSI)物理レイヤのトランスミッタ適合性試験のための自動テスト・ソフトウェアを発表します。最高リアルタイム・サンプル・レート100GS/s(2Ch同時)、周波数帯域33GHzの性能を持ったMSO/DSA/DPO70000シリーズ・オシロスコープとDPOJETベースの自動コンプライアンス試験ソフトウェアを組み合せることで、難しいSAS-3設計問題を詳細に解析します。

SASは、ハイエンド・サーバやワークステーションのストレージ・アプリケーションで広く採用されている高速シリアル・バスです。SAS-3ではデータ・レートがSAS-2インタフェースの6Gbpsから、その2倍の12Gbpsへと高速になっています。12Gbpsで動作するストレージ・デバイスやチップセットの設計では、今まで無視できた、あるいは比較的簡単に解決できていたクロストークまたは小さくなったS/N(信号/ノイズ)比などが、新たな電気設計の問題になってきました。

製品の市場投入までの時間を短縮したい「アーリー・アダプタ」は、SAS-3 12Gbpsのトランスミッタ測定が簡単に行えるツールを求めています。自動化ソフトウェアとトランスミッタ/レシーバ・テストのMOI(Method of Implementation:テスト手順書)ドキュメントを組み合せた物理レイヤのトランスミッタ・テスト・ソリューションを使用することにより、測定が簡単になり、専門知識がないと難しいテスト結果を、すばやく理解し、解釈できます。

テクトロニクス、パフォーマンス・オシロスコープ、ジェネラル・マネージャのブライアン・ライク(Brian Reich)は、次のように述べています。「SASのように、世代が変わるごとに速度が2倍になる場合、短時間での製品の市場投入を実現するためには、自動テスト・ソリューションがますます重要になります。テクトロニクスはSASのワーキング・グループと緊密に連携し、積極的にプラグフェストに参加しました。それによってSASソリューションを拡充し、最新の規格に対応することができました」

テクトロニクスのSAS-3ソリューションは、従来のACパラメータ測定だけでなく、クロストーク、イコライゼーション解析、エンドツー エンドの統合シミュレーション・ツールセットを含む、物理レイヤ設計の特性評価測定もサポートしています。さらに、DPOJETジッタ/アイ・ダイアグラム解析ソフトウェアを使用することで、設計問題のトラブルシュートが容易になります。カスタム設定機能によってテストのパラメータを変更したり、トレンド・プロットまたはヒストグラムなどが追加できるため、さらに詳細に解析できます。

MSO/DSA/DPO70000シリーズ・オシロスコープは優れた信号アクイジション性能と解析性能を備え、業界トップクラスのサンプル・レートによってより詳細な信号取込みが可能です。高速シリアル・データ信号の取込み、解析のための自動セットアップ機能、迅速な設計、コンプライアンス・テストのためのツールセットを備えています。


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