「ビジネスやサービスが見えるインフラ／アプリケーション性能監視の実現」セミナを開催

リアルタイム・データのグラフィックな可視化と監視ツールの提供でリードする株式会社 SL ジャパン（リンク 米 SL 社日本法人、所在地： 東京都港区、代表取締役社長 羽島良重）は、２月８日（水）１５：００～１７：００、「ビジネスやサービスが見えるインフラ／アプリケーション性能監視の実現」セミナ（無料・事前登録制）を、スタジアムプレイス青山 コンファレンスセンター（東京・外苑前駅徒歩２分）にて開催いたします。


今回のセミナは、昨年１１月に東京ミッドタウンで開催された、Application Performance 2011（株式会社ナノオプト主催）で SL ジャパンの代表取締役社長 羽島 良重が講演し、開始前に満席お礼で急遽、会場内に椅子を追加となったセッション内容の「拡大版セミナ」です。


クラウド、ビッグデータ、仮想化によって複雑化する今日の分散した多層（※）アプリケーション環境における監視・管理ツールや性能指標などのデータすべてをリアルタイムに「直接」インメモリで集約し、サービスに応じて「カスタム構築」できるインフラ／アプリケーション性能監視について、世界で人気のオンラインストアやグローバル銀行の事例とデモとともに解説いたします。
（※）ユーザ層、ミドルウェアとサーバ層、ハード OS 層


セミナでは、実際に SL 社の RTView のビルダを使い、監視画面、アラートや対応アクションをポイント＆クリックでカスタムメイクするデモを行なう他、ビジネス・サービス全体からアプリケーション、インフラ・コンポーネントへとドリルダウン分析していくフルスケールの可視化と監視システムのデモ（ビデオなどでは未公開）を、ご覧いただきます。


SL 社の RTView は完全にオープンな可視化と監視ツールで、ダッシュボード監視画面と部品はもとより、画面上でのデータ集約、フィルタリングと分析、アラート、対応アクションはすべて「ビルダー」で「カスタム」メイクできます。各種のデータ接続アダプタの他、「カスタム・データ・アダプタ」により、任意のリアルタイム・データと「ダイレクトに接続」できます。


今回のセミナでは、Application Performance 2011 セッションでご紹介した RTView 成功事例の具体的なダッシュボード監視画面とデモの時間を延長してより詳しくご覧いただく他、インメモリ・データグリッド・アプリケーションの監視デモや、複合イベント処理（CEP）エンジンとの接続による可視化と監視などの内容を追加して、インフラ／アプリケーション性能監視を中心に、ビジネス・アクティビティ監視（BAM）に至るカスタム・ソリューションの実現について、解説してまいります。


☆対象分野：
インフラ監視、アプリケーション・サーバ／ミドルウェア監視、アプリケーション性能監視（APM）、サービス／ビジネス・アクティビティ監視（BAM）／複合イベント処理（CEP）、インメモリ・データ・グリッド監視、一元監視ダッシュボードとアラート・システムなど。


☆セミナについての詳細ならびにお申し込みは、こちらのサイトをご参照ください:：
リンク


■ お問い合わせ先：
株式会社 SL ジャパン　広報担当　publicity@sl-j.co.jp
電話 03-3423-6051
〒107-0062　東京都港区南青山 3-8-5　アーバンプレム南青山３階


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