~多数のサービス全体から、アプリケーション、インフラ・コンポーネントへとドリルダウン分析できる可視化と監視システムを、既存の監視ツールやデータで「カスタム」構築する技法と事例~
リアルタイム・データのグラフィックな可視化と監視ツールの提供でリードする株式会社 SL ジャパン(リンク 米 SL 社日本法人、所在地: 東京都港区、代表取締役社長 羽島良重)は、2月8日(水)15:00~17:00、「ビジネスやサービスが見えるインフラ/アプリケーション性能監視の実現」セミナ(無料・事前登録制)を、スタジアムプレイス青山 コンファレンスセンター(東京・外苑前駅徒歩2分)にて開催いたします。
今回のセミナは、昨年11月に東京ミッドタウンで開催された、Application Performance 2011(株式会社ナノオプト主催)で SL ジャパンの代表取締役社長 羽島 良重が講演し、開始前に満席お礼で急遽、会場内に椅子を追加となったセッション内容の「拡大版セミナ」です。
クラウド、ビッグデータ、仮想化によって複雑化する今日の分散した多層(※)アプリケーション環境における監視・管理ツールや性能指標などのデータすべてをリアルタイムに「直接」インメモリで集約し、サービスに応じて「カスタム構築」できるインフラ/アプリケーション性能監視について、世界で人気のオンラインストアやグローバル銀行の事例とデモとともに解説いたします。
(※)ユーザ層、ミドルウェアとサーバ層、ハード OS 層
セミナでは、実際に SL 社の RTView のビルダを使い、監視画面、アラートや対応アクションをポイント&クリックでカスタムメイクするデモを行なう他、ビジネス・サービス全体からアプリケーション、インフラ・コンポーネントへとドリルダウン分析していくフルスケールの可視化と監視システムのデモ(ビデオなどでは未公開)を、ご覧いただきます。
SL 社の RTView は完全にオープンな可視化と監視ツールで、ダッシュボード監視画面と部品はもとより、画面上でのデータ集約、フィルタリングと分析、アラート、対応アクションはすべて「ビルダー」で「カスタム」メイクできます。各種のデータ接続アダプタの他、「カスタム・データ・アダプタ」により、任意のリアルタイム・データと「ダイレクトに接続」できます。
今回のセミナでは、Application Performance 2011 セッションでご紹介した RTView 成功事例の具体的なダッシュボード監視画面とデモの時間を延長してより詳しくご覧いただく他、インメモリ・データグリッド・アプリケーションの監視デモや、複合イベント処理(CEP)エンジンとの接続による可視化と監視などの内容を追加して、インフラ/アプリケーション性能監視を中心に、ビジネス・アクティビティ監視(BAM)に至るカスタム・ソリューションの実現について、解説してまいります。
☆対象分野:
インフラ監視、アプリケーション・サーバ/ミドルウェア監視、アプリケーション性能監視(APM)、サービス/ビジネス・アクティビティ監視(BAM)/複合イベント処理(CEP)、インメモリ・データ・グリッド監視、一元監視ダッシュボードとアラート・システムなど。
☆セミナについての詳細ならびにお申し込みは、こちらのサイトをご参照ください::
リンク
■ お問い合わせ先:
株式会社 SL ジャパン 広報担当 publicity@sl-j.co.jp
電話 03-3423-6051
〒107-0062 東京都港区南青山 3-8-5 アーバンプレム南青山3階
※記載される会社名・製品名は、それぞれ各社が所有する商標または登録商標です。
御社のプレスリリース・イベント情報を登録するには、ZDNet Japan企業情報センターサービスへのお申し込みをいただく必要がございます。詳しくは以下のページをご覧ください。