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テクトロニクス、ARM TechConにおいてエンベデッド・インスツルメンツ・ソフトウェアで最優秀賞を受賞

テクトロニクス 2011年11月15日 10時30分
From Digital PR Platform


報道発表資料抄訳
2011年11月15日

[2011 年11月3日 米国オレゴン州ビーバートン発]
テクトロニクスは本日、米国ARM社主催の技術者向けイベント「ARM TechCon 2011」
において、テクトロニクスEIG (エンベデッド・インスツルメンツ・グループ)の
ソフトウェアが最優秀賞を受賞したことを発表します。現在、テクトロニクスEIG
である旧VaridaeSystems社のASICおよびFPGAバリデーション/デバッグ・ツー
ル、ClarusとCertusで受賞しました。

前回のARM TechCon以降に発表された中から最も優れた技術に対し、
ARMTech Best in Showが贈られます。賞は、半導体設計、ソフトウェア、そして
ハードウェアの3種類があります。受賞者は、業界を代表する編集者グループによ
って選定されます。

テクトロニクス、デジタル解析プロダクト・ラインおよびEIGのジェネラル・マネ
ージャであるデイブ・ファレル(Dave Farrell)は、次のように述べています。
「当社のツールを使用することで、エンジニアは複雑なシステム・オン・チップ内
部が観測できます。重要な信号を動作スピードで観測できるため、バリデーション、
デバッグのプロセスが短縮できます」

ClarusはIPジェネレータと組み合わせて使用する解析ツールであり、デバッグで
重要となる信号を特定する、分散型の省リソース・オンチップ・ロジック・アナラ
イザといえます。FPGAまたはASICのプロトタイプからデータを取込み、結果を解
析できます。

Certusは、マルチFPGA ASICプロトタイプのバリデーション/デバッグ・ソフト
ウェアです。ユーザ独自のプロトタイプ・ハードウェア、パーティショニング・
フロー、FPGA CADツールと組み合わせて使用することで、プロトタイプ・ソリュ
ーションのキーとなる技術となります。

<テクトロニクスについて>
テクトロニクスは、計測およびモニタリング機器メーカとして、世界の通信、
コンピュータ、半導体、デジタル家電、放送、自動車業界向けに計測ソリュー
ションを提供しています。65年以上にわたる信頼と実績に基づき、お客様が、
世界規模の次世代通信技術や先端技術の開発、設計、構築、ならびに管理をより
良く行えるよう支援しています。
米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、現在世界22カ国
で事業を展開しています。詳しくはウェブサイト(米国:www.tektronix.com、
日本:www.tektronix.com/ja )をご覧ください。

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