アドバンテスト、光部品試験用の光ネットワーク・アナライザ「Q7761」を発売

　電子計測器メーカーのアドバンテスト（丸山利雄社長）は、光部品試験用測定器としては世界で初めて、2次偏波モード分散測定機能を搭載し、光部品の光分散特性を1台で測定できる光ネットワーク・アナライザ「Q7761」を開発、販売を開始したと発表した。この「Q7761」は、7月15日から18日まで幕張メッセで開催される「インターオプト'03」に出品される。

　発表によれば、 Q7761は、波長分散測定といった光ネットワーク・アナライザの基本測定だけでなく、2次偏波モード分散測定機能を搭載。高ビットレート化を実現する上で無視できない高次分散の影響も、別途測定器を接続することなく当製品１台で測定できるため、光部品の開発および生産現場の効率化およびテストコスト削減が可能になる。

　またQ7761は、アドバンテスト独自のアーキテクチャにより、1つのディスプレーに4つの異なる測定データを同時に表示できるので、光分散に関する様々な測定項目を瞬時に確認でき、試験のさらなる効率化を実現する。

　性能面では、波長可変光源の波長切り替えスピードを大幅に向上し、光分散に関する全ての測定項目を、測定速度1.5sec（範囲1nm、分解能1pmにおいて）という同社従来比約100倍のスピードで測定することができる。外部環境（温度や振動など）に影響を受けやすい光部品の測定誤差を低減すると共に、リアルタイムで測定結果を見ながら被測定物の特性調整が可能。また、同光源の波長基準やリニアリティ（直線性）を向上させたことで、従来比約5倍の絶対波長確度±５ｐｍを実現した。これにより研究・開発が進む40Gbps以上の高速デバイスを高い確度で測定することが可能になった。

　Q7761の価格は、構成によって異なるが2500万円〜。アドバンテストでは、初年度に30〜50台の販売目標台数を見込んでいる。

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