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テクトロニクス、新しいDisplayPort Type-Cトランスミッタ・テスト・ソリューションを発表、コンプライアンス・テスト時間を大幅に短縮

テクトロニクス 2016年11月08日 11時00分
From Digital PR Platform


報道発表資料
2016年11月8日

テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、従来のDisplayPortソリューションに比べて、コンプライアンス・テストの所要時間を大幅に短縮する、新しいDisplayPort Type-Cトランスミッタ・テスト・ソリューションを発表します。 新しいテスト・ソリューションはテクトロニクスの高性能オシロスコープでの使用に最適化されており、実際のフィールド評価、DisplayPort Type-Cのすべてのコンプライアンス・テストにおいて、他社のソリューションで最長16時間要していたものが6時間以下になります。

DisplayPortのコンプライアンス・テストで最も大きな問題は、長いテスト時間であり、その間、テストの実行経過をモニタしながら機器設定をする必要上、エンジニアにも長い工数を要求するものでした。また、USB 3.1規格のAltenate (オルタネート) モードの一つとしてサポートされているDisplayPort Type-Cのテストも統合しなければなりません。今回発表するテクトロニクスのDisplayPortテスト・ソリューションは、完全自動、短時間のテストの他に、Type-C仕様のサポートも統合されており、自動テスト・セットアップ、タイマ・ポップアップによるハンズフリーのテストが実行できます。

テクトロニクス、パフォーマンス・オシロスコープ、ジェネラル・マネージャのブライアン・ライク(Brian Reich)は、次のように述べています。「新しい設計を予定通りに、予算内で市場に投入することを求められているエンジニアにとって、テストや測定に要する時間を短縮することは、目標達成における重要な要素となっています。このソリューションを使用することで、DisplayPort設計のエンジニアは設計業務に専念できます。実行するテスト項目を選択するだけでよく、テスト実行中は他の業務に集中できます」

今回発表する主な機能は、シリコンの特性評価とデバッグで使用されるDPOJETの測定ライブラリの導入によるものです。コンプライアンス・テストで何らかの不良が発生した場合、DPOJETのDisplayPort測定ライブラリを選択することでアイ・ダイアグラム・マスクなどの不良詳細がわかり、プリエンファシス・レベルと電圧スイングの関係を調べることで不良原因を解析することができます。また、さまざまな設定での測定、異なった構成での同じ測定、さらに、それを単発測定で、またはフリーランの繰返しモードでテストするなど、優れた柔軟性を持っています。

DisplayPort TX自動化ソリューションは、自動化のために設計された優れたツールであるTekExpressフレームワークを使用して、DisplayPort 1.2 Type-Cの仕様とCTSのコンプライアンス・テストに対応しています。自動化のバックエンド・エンジンは、ソケット・ベースのプログラミング、.NETリモートを使用するIron Pythonをベースにしています。ソケット・ベースのスクリプト・インタフェースは業界標準であり、テクトロニクスの自動化ソリューションを自動化環境に統合することができます。

TekExpressフレームワークは、DUT(被測定デバイス)を一枚のパネルにするなど、シンプルなユーザ・エクスペリエンスを提供します。Unigraf社のDPR-100リファレンス・シンク補助コントローラを使用した、DUT自動化サポートを含んでいます。強化されたレポート・オプションにより、.html、.mht、.pdf、.csvのフォーマットでレポートが生成できます。.csvフォーマットによるデータ・ロギングにより測定結果の収集、システム動作の解析が詳細に行え、ライブおよびオフラインでの波形解析が可能になります。

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