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テクトロニクス、業界初ONFIフラッシュ・メモリ規格用テスト・ソリューションを発表

テクトロニクス 2016年11月07日 11時00分
From Digital PR Platform


報道発表資料
2016年11月7日

テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、ONFI(Open NAND Flash Interface)規格に対応した、業界初のテスト・ソリューションを発表します。 新たなONFI 4.0テスト・ソリューションは、テクトロニクスの高性能オシロスコープで利用可能であり、ONFIバスのDDR2/3モードを解析するソフトウェアと、インターポーザをベースにした効果的なプロービング・ソリューションで構成されています。

ONFI規格はONFI Working Groupによって策定された規格であり、民生用電子機器、コンピュータ・プラットフォーム内のNANDフラッシュ・メモリの統合を簡素化します。ONFI 4.0の仕様では、NV-DDR3インタフェースがVccQ=1.2Vでの動作可能になることで性能が向上し、消費電力が改善されています。これにより、NV-DDR2およびNV-DDR3のI/O速度がそれぞれ667MT/s、800MT/sになり、さらにZQキャリブレーション機能が追加されました。

速度が上がり、電圧レベルが下がってくると、ONFIバスの設計エンジニアはコンプライアンスへの適合性、タイミング問題のデバッグ、信号へのアクセスなどの問題に直面します。TEK-PGY-ONFIソフトウェアは、設計/テスト・エンジニアによるONFIインタフェースのテストにおいて、ONFIバスのタイミング・パラメータの適合性を確認し、コマンド、アドレス、データ・イン、データ・アウトのトランザクションを自動測定します。TEK-PGY-ONFIソフトウェアの詳細な表示機能により、ONFI波形の電気測定項目ごとに、注釈を付けてアナログ波形と相関付けることができるため、タイミング問題のデバッグに役立ちます。

実装密度の高いパッケージングと高速なデータ・レートにより、NANDフラッシュ・デバイスに対する高品位な信号アクセスは困難になっています。非常に狭い寸法要件に対して、テクトロニクスはソケット、ダイレクト・アタッチ、特許取得のエッジ・プローブ・デザインなど、さまざまな形状、寸法に対応しています。オシロスコープに適用する組込みフィルタのモデリングまたは生成のための、インターポーザとプローブのSパラメータ・モデルも用意されています。

TEK-PGY-ONFIソフトウェアは、周波数帯域が4~33GHzのテクトロニクスのMSO/DPO70000シリーズ・オシロスコープで実行でき、テストではP7500シリーズまたはP7300シリーズのプローブが推奨されます。ONFIのテストにおいて、信号への接続が困難、あるいは不可能な場合があります。テクトロニクスは、Nexus社のONFI 152、ボール・タイプのNAND Flash Edge高品位インターポーザを推奨しており、信号へのアクセスの容易さと優れたシグナル・インテグリティを実現しています。

テクトロニクス、パフォーマンス・オシロスコープ、ジェネラル・マネージャのブライアン・ライク(Brian Reich)は、次のように述べています。「今回発表のONFIテスト・ソリューションは、メモリベースの製品を、自信を持っていち早く市場に投入するために必要となる詳細な情報が得られます。手作業による従来のテストに比べ、このソリューションはコンプライアンス・テスト時間を大幅に短縮し、デバッグ作業が簡素化できるため、作業効率を飛躍的に向上します」

新製品のTEK-PGY-ONFIソフトウェアは、eMMC、UFS、DDRAなど、テクトロニクスが提供する、他のメモリ技術の総合ソリューションに加わります。

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