◎Flexstarが超高性能PCIe SSDテストシステムを提供
AsiaNet 54603
共同JBN 1197（2013.10.16）
【サンノゼ（米カリフォルニア州）2013年10月16日PRN＝共同JBN】ストレージ技術メーカー向けテスト・測定ソリューションの大手プロバイダーであるFlexstar Technology, Inc.は、ViridentのFlashMAX IIIシリーズの超高容量／性能のGen 3.0 PCIeのために開発した同社初の超高性能テストシステムを発表した。このデバイスは150万を超えるIOPと1.6GB/sスループット性能を提供する。
Viridentのカール・ムニオ副社長（オペレーション担当）は「業界トップの容量と性能を誇るPCIeである当社の次世代FlashMAX IIIシリーズをテストする際、われわれは当社のパートナーとして、ストレージ・テスティング・ソリューションの真のリーダーであるFlexstarを選択した」と語った。
超高性能Flexstar Single Board Computingシステムは最新のデュアルIntel（登録商標）Xeon CPU技術を搭載し、市販されている最新鋭PCIeアクセラレーターSSDのデータサチュレーションを可能にする。FlexstarのPCIe Gen 3.0コア製品はあらゆるベンチトップ、バーンイン、環境のためのシステムに組み込まれる。
Flexstar Technologyのスティーブン・メメン最高経営責任者（CEO）は「新興のPCIe SSD市場の業界リーダーでトレンドセッターであるViridentと提携できることをうれしく思う。これによって、Flexstarはこの極めて重要なセグメントに寄与する製品に引き続き投資をしていく」と語った。
▽問い合わせ先
Michael Ajlouny, SVP of Sales & Marketing
Phone: +1-408-643-7002
Email: mikea@flexstar.com
ソース：Flexstar Technology, Inc.
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