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テクトロニクス、「第12回 光通信技術展」にて最先端の計測ソリューションを展示

テクトロニクス 2012年04月05日 14時38分
From Digital PR Platform


お知らせ
2012年4月5日

テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、2012年4月11日(水)~13(金)の 3日間、東京ビックサイトで開催される、光通信システム、デバイス、次世代ネットワーク関連機器が一堂に出展する、「第12回 光通信技術展 (FOE2012)」に出展します。

テクトロニクスのブース(東ホール4 28-40)では、高い性能と優れた操作性を備えた光コンポーネント、トランシーバのサブアセンブリまたは伝送システムに従事されるエンジニアの皆様のための最新のテスト・ソリューションを展示します。最新のDSA8300型オシロスコープ、OM4000シリーズ光変調アナライザ、BERTScope(R)シリーズ・ビットエラー・レート・アナライザなど、お客様の設計品質と設計スピードの向上に貢献するテクトロニクスの光通信ソリューションをご紹介します。

1. 展示ブース概要 (東ホール4 28-40)
<出展ソリューション>
・ コヒーレント光変調解析
33GHz周波数帯域、100GS/sの超高速リアルタイム・サンプルレートのオシロスコープと光変調アナライザの組み合わせによる最新のコヒーレント・光変調解析ソリューションです。

・ 40G/100GEthernet測定
サンプリング・オシロスコープをベースにした40G、100G Ethernetの測定ソリューションです。BUJ(非相関有界ジッタ)をはじめとするさまざまなジッタ分離、解析が可能。

・ 高速ビット・エラー・レート解析
最高26GbpsまでのBER/ジッタ測定、エラー解析を提供します。ジッタ、干渉などのストレス生成やエラー/データ相関の解析が可能です。 (Bert Scopeビット・エラー・レート・アナライザ)

・ マルチプロトコル・ネットワーク解析
複数のプロトコル、マルチ・ファンクションのプロトコル・アナライザです。LAN、SAN、FCoEなど統合環境でのネットワーク・テストに威力を発揮します。

<展示機器>

・OM4000シリーズ光変調アナライザ
・MSO/DSA/DPO70000 デジタル&ミックスド・オシロスコープ
・BERTScopeシリーズ・ ビットエラー・レート・アナライザ
・DSA8300型サンプリング・オシロスコープ
・TPI4000プロトコル・アナライザ

2. イベント概要
イベント名: 第12回 光通信技術展 FOE2012
会期: 2012年4月11(水)〜13日(金)
開場時間: 10:00~18:00(13日[金]のみ17:00終了)
会場: 東京ビッグサイト (東ホール4 28-40)

<テクトロニクスについて>
テクトロニクスは、計測およびモニタリング機器メーカとして、世界の通信、コンピュータ、半導体、デジタル家電、放送、自動車業界向けに計測ソリューションを提供しています。65年以上にわたる信頼と実績に基づき、お客様が、世界規模の次世代通信技術や先端技術の開発、設計、構築、ならびに管理をより良く行えるよう支援しています。米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、現在世界22カ国で事業を展開しています。詳しくはウェブサイト(www.tektronix.com/ja )をご覧ください。

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