ヴェリジー、V93000 Port Scale RFシステムが無線通信向け半導体のテスト用に複数台採用が進む

Tokyo, Apr 15, 2010 - (JCN Newswire) - 先進の半導体テスタ・メーカーであるヴェリジー・リミテッド（社長 兼 CEO：キース・L・バーンズ、NASDAQ：VRGY）は4月12日（米国時間）、超低コスト無線通信ハンドセットで用いられる高周波システムオンチップ(RF-SOC)の試験用にリピート顧客に対して複数台のV93000 PortScale RFシステムを出荷したと発表しました。


超低コスト無線通信ハンドセットの世界市場は16億人の需要が見込まれており、需要の大半は携帯電話機をまだ購入していない人々が多数存在する中国やインドなどの新興国にあるとされています。市場調査会社アイサプライ（iSuppli）の調査によれば、2009年から2013年までの間に市場は2倍に拡大し、年間2億ユニットを超える出荷が見込まれています。


ヴェリジーでワールドワイド・セールス、サービスおよびサポート担当バイスプレジデントであるパスカル・ロンデ(Pascal Ronde)は「我々の顧客は現在、量産中のRF-SOCデバイスをテストするために複数台のV93000 Port Scale RFテストシステムを保有しています。V93000システムはテスト速度、精度、機能性の間でトレードオフを一切行うことなく複数の試験レベルでこれらのデバイスをテストすることができます。プラットフォームは柔軟性に富む設計が施されているため、ユーザーは無線受信デバイスだけでなくその他の重要部品の試験も行うことにより検査工程全体の試験スループットを高めることができます」と語っています。


RFデバイスは携帯電話機、全地球測位システム(GPS)、チューナー、その他多くのアプリケーションにおいて鍵となる重要部品です。より高速でより小型なRFデバイスに対する要求が年々と厳しくなっており、現在半導体業界ではGSM/CDMA、CDMA2000、EDGEおよびEDVOを含む複数の無線通信プロトコルをサポートし、単一チップ上により多くのRF通信機能を搭載する動きが加速しています。また、これらのチップを高い信頼性を維持しながら大量生産するために先進的なICテストシステムが要求されています。


ヴェリジーのV93000 PortScale RFシステムは最高48ポートまでのテストが可能であり、最も低いテスト・コストで真のクワッド・サイトおよび高いマルチサイト並列試験効率を実現します。コスト効率に優れた応用範囲は、低い集積度のRF送受信機の高スループット試験から、RFミックスド信号処理回路、デジタル回路、電力管理機能、組み込みまたはスタックド・メモリなどの回路を集積した先進的デバイスのテストまで幅広くカバーしています。


ヴェリジーについて
ヴェリジーは設計検証、デバイス特性評価、量産向けテストなどで世界中の主要半導体メーカーで使用されている先進的な半導体テスト装置およびソリューションを提供しています。ヴェリジーは　システム・オン・チップ(SoC)、高速メモリを含むフラッシュメモリ、DRAMさらにはマルチチップ・　パッケージ(MCP)などの広範囲かつ拡張性に富んだテスト・ソリューションを提供しています。最先端の解析ツールが、ヴェリジーの顧客がデザイン・デバッグおよび歩留まり改善プロセスの所要期間を短縮するのを支援します。ヴェリジーに関する詳細情報はWebサイト www.verigy.com をご覧ください。


※米国時間2010年4月12日にヴェリジー・リミテッドが発表したプレスリリースを、ヴェリジー株式会社が和訳・要約したものです。
※このプレスリリースに記載されている会社名、製品名は、各社の登録商標または商標です。


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