開催場所:東京
開催日: 2009年10月21日
申込締切日:2009年10月16日 (金)
■開催概要
「ユニバーサル・レシーバーテスター」の最新バージョン5.0によるナビゲーションテストの高精度シミュレーション機能、また工場生産ラインにおけるカーラジオテスト自動化の事例についてご紹介いたします。
■日時
2009年10月21日(水)13:30~16:30(受付開始 13:00)
■会場
新宿NSビル(3階 309会議場)
東京都新宿区西新宿2-4-1
URL:リンク
■セミナースケジュール
13:00 開場 受付開始
13:30~13:40 ご挨拶 株式会社理経 執行役員 栗本 美由
13:40~14:40 「ユニバーサル・レシーバーテスター(URT)によるカーエレクトロテストの自動化」
※実機によるデモを実施いたします。(日本語での講演)
講師:アベルナ・テクノロジーズ社
ビジネス開発部 ディレクター エティエン・フレネット
14:40~15:30 「海外でのRF信号 集録&再生システムのフィールド評価レポート」
講師:三洋半導体株式会社
カスタムLSI事業部 カーチューナー開発部 チューナー開発課
課長 佐伯 孝夫 様
15:30~15:40 休憩
15:40~16:30 「日本NI社が提供するURTの自動テストシステム」
講師:日本ナショナルインスツルメンツ株式会社
ビジネスデベロップメントマネージャー 瀧川 和哉 様
※講義内容は変更となる場合がありますので、予めご了承ください。
■参加費
無料
■定員
40名(定員になり次第、申込締切とさせていただきます)
■申込締切
2009年10月16日(金) ※申込締切日は変更となる場合がございます。
■主催
株式会社 理経
■製品ページURL
リンク
■参加のお申込みはこちら→リンク
■問い合わせ先
部品機器営業部
TEL: 03-3345-2177
E-mail:nni@rikei.co.jp